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精實新聞 2013-11-25 記者 羅毓嘉 報導

半導體測試設備廠愛德萬測試(Advantest,NYSE: ATE)推出最新一代系統單晶片(SoC)元件測試分類機M4871，該款設備結合愛德萬測試經生產驗證的技術優勢，並加入先進系統單晶片所需測試功能，可提供客戶更具成本效益的測試方案，新機種預定於明年Q1開始量產並交付給客戶使用。

愛德萬測試指出，新一代系統單晶片(SoC)元件測試分類機M4871可讓現有客戶就地升級，新機種除承襲愛德萬測試原有技術優勢外，並提供最新先進功能，不僅具備以愛德萬測試獨有溫控 (Tri-Temp) 技術所開發的高產能主動式熱控目視調準功能，所有資料也採全新視覺化架構，使用者只要透過網路就能即時監控測試機台生產進度。

愛德萬測試工廠自動化事業部長Hiroki Ikeda表示，這款全新分類機整合了系統單晶片所需的各種測試功能，隨著M4871的推出，愛德萬測試將可提供客戶最具成本效益、高效能、高彈性的測試解決方案。

愛德萬測試指出，為協助客戶提高測試良率、加快測試週期時間，新一代M4871分類機加入目視調準功能，其定位精確度可達低於0.3 mm ball/pad pitch，最適合處理微細間距元件，這項精度調準功能亦有助於縮短設定與校正時間，產能也將隨之提升。

此外，在閒置時間方面，M4871也比過去縮短許多，有效測試作業時間一個月可多出20小時之多，這使得整體設備效能 (OEE) 和元件成本獲得大幅改善。

根據愛德萬提具的資料，新一代M4871分類機基本設定的並行同測能力為前一代的8倍，每小時總測試產量最高可達8,000個元件，現有客戶可直接就地升級，並行同測能力最高可提升32倍之多，充裕因應多接腳元件測試需求，同時也將降低耗電量、減少測試載具成本，並讓其他測試效能更上一層樓。M4871分類機預計於2014年Q1開始交貨給客戶。